1. 基本校准：适用于测量光滑物件表面涂层，或者测量物件的材料、面积和曲率和我们随机附带基体接近。
2. 零点校准：建议开始任何一项测量任务前都进行零点校准，测量中途出现可疑误差，也可随时作归零操作。
3. 一点校准：预先估计待测量涂层厚度，使校准点尽量靠近待测厚度，可以有效实现高精度测量。此校准方法可以轻松地使测量误差控制在+-(1%...3%)+1um/1.5um(传感器自身系统误差)
4. 二点校准：和一点校准相似，尽量使待测涂层厚度范围与两点校准点接近，以更好修正待测范围内的误差。该校准用于粗糙表面涂层测量和高精度的光滑涂层表面测量。